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LIV激光芯片测试系统

说明介绍

产品说明

模块化设计，具有高可靠性；
可调LD驱动电路，电流可达0~500mA（如需更大电流，可定制）；
一机多用，可测量LIV、PER及光谱仪相关参数；
自动化集成度高，上位机软件自选阈值测试/判定，阈值计算，计量点设置，激光器扫描设置，自定义通道选择，满足多样化需求；
上位机软件高效数据分析功能，可自动存储历史测试结果，自选数据进行图形可视化对比；
主机集成，占地面积小，静音测试，更安静的测试环境；
可自定义调节扫描时间及测试档位，测试时间可随时终止；
内嵌PC机，无需单独配置电脑，测试系统简洁，方便操作；
激光驱动模块、电机驱动模块分别独立设计，便于维护及升级；

LIV激光芯片测试系统

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