你的精密实验,是否总差那“最后一微米”?
光纤耦合光强难以锁定峰值
激光干涉测量条纹易发生漂移
薄膜扫描测试重复性波动
......
设备标称指标满足设计要求
实际实验却始终难以达到预期
01.为什么分辨率如此关键?
分辨率,决定了位移台每次最小可控位移的细腻程度,不仅代表微动步距,同时决定位置反馈精度与系统误差抑制能力。
微米级闭环位移台可满足绝大多数科研与工业定位工况,但面向纳米级光路对准、微纳加工、半导体精密检测等高阶应用,1μm分辨率会成为性能边界:难以完成微量位移修正,偏差逐步累积,数据复现越来越难。
基于成熟机型EPSB-G的技术基底,OMTOOLS迭代推出精密电动平移台EPSBNG系列——以更高分辨率、更快反馈机制,从根源上补齐高阶定位的精度缺口,消解 “最后一微米” 带来的实验制约。
02.优化前后核心参数对比
对比维度 | EPSB-G(老款) | EPSB-N(新款) | ✨️迭代变化 |
闭环分辨率 | 1μm(选配) | 100nm标配 可选50/20nm | 10倍精度提升 |
光栅尺类型 | 外置分体光栅(选配) | 贴片式光栅尺(标配) | 集成度更高,稳定性更优 |
轴承座 | 铝合金 | 45钢 | 刚性与结构稳定性更强 |
电气接口 | DB9+DB9 | DB9+DB15 独立分离接口 | 更通用,布线更灵活 |
台面安装孔位 | 常规孔位 | 多孔位拓展布局 | 配件集成兼容性更广 |
迭代核心:全系传承经典机型稳定可靠性,针对高端精密场景升级纳米精度与集成体验,新旧款分工互补,覆盖不同层级项目需求。
03.四大核心升级
本次迭代针对高精密定位、长期循环、集成便捷性高阶需求,做四大维度性能升级,适配更高标准精密定位场景。
标配贴片式光栅|实现纳米级闭环反馈
l 全新升级贴片式光栅尺闭环控制,与台面刚性同步、零延迟反馈;
l 标配100nm分辨率,可选50nm/20nm超高精度,适配纳米级高精度科研实验。
电气接口重构|抗干扰、易集成
l 升级DB9+DB15独立分离接口,替代传统共线设计,动力与信号物理隔离、抗干扰性更强;
l 可兼容OMTOOLS自研MINI控制器、OMTOOLS两相步进闭环控制箱及更多主流控制器,即插即用,减少适配环节。
整机工艺升级|便于多轴搭建
l 升级45钢轴承座,机身采用铝合金一体铣削+黑色喷砂氧化处理,抗反光、耐形变;
l 设备升级标准化光学台面与拓展孔位,兼容更多市面光学配件,可直接适配OMLB-B系列Z轴转接板,快速搭建多轴模组。
内部装配工艺迭代|运行稳定性高
l 沿用经过大批量验证的研磨滚珠丝杠、轻预压线性导轨、雷赛两相步进电机、手自一体手轮、欧姆龙限位与原点传感整套成熟硬件配置;
l 针对内部走线、装配应力释放流程做优化,改善线缆长期往复运动磨损风险,优化限位降速逻辑,进一步提升7×24h连续工况下整机运行稳定性。
04.应用领域
光学光电领域
精密光学测量、光路校准调试、光纤对准耦合、激光微加工、干涉仪系统搭建、光学镜头组装调芯、空间滤波系统、激光雷达光学校准、光谱扫描检测、超分辨显微光路微调。
半导体与微电子行业
半导体晶圆检测、光刻掩模对准、芯片封装键合、探针台精密定位、PCB元器件检测、MEMS器件组装、FPD面板检测、芯片引脚对位、半导体真空测试、电子元件AOI自动光学检测。
激光加工应用
激光精密打标、激光微切割、激光焊接、激光打孔、飞秒激光加工、激光扫描成像、激光聚焦微调。
材料科学与前沿科研
材料微观表征测试、扫描电镜配套样品台、纳米压痕测试、原位力学拉伸实验、真空高低温实验平台、光谱分析实验、高校物理 / 化学教学实验、纳米材料观测定位。
工业精密检测与自动化
3C电子精密装配、新能源电池检测、全自动尺寸计量设备、机器视觉对位平台、微小工件精密搬运、自动化精密贴合、光伏电池片检测。
04.型号参数速览
型号 | 行程 | 台面尺寸 | 单向定位精度 | 重复定位精度 |
EPSB50NG | 50mm | 125×125 mm | ≤10μm | ≤±5μm |
EPSB100NG | 100mm | 125×125 mm | ≤15μm | ≤±5μm |
EPSB150NG | 150mm | 125×125 mm | ≤20μm | ≤±5μm |
EPSB200NG | 200mm | 125×125 mm | ≤25μm | ≤±5μm |
EPSB300NG | 300mm | 160×160 mm | ≤35μm | ≤±5μm |
EPSB400NG | 400mm | 160×160 mm | ≤45μm | ≤±5μm |
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